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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀中國代理

OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。光譜測量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。標準儀器的光纖允許各種測量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀中國代理

OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。光譜測量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。標準儀器的光纖允許各種測量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計代理

OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數(shù)。
OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀帶AS50塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀帶AS50塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)分析。
OTSUKA大塚電子nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)分析。
OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)分析。
OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎代理

OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)分析。
江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統(tǒng)

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統(tǒng) GS-300實現(xiàn)嵌入晶圓中的布線圖案的圖案對齊 GS-300滿足半導體工藝的高通量需求 GS-300支持凹口對齊功能
OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。
浙江OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀

OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000S塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000S除了可實現(xiàn)高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000S還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構(gòu)提高了測量精度。　
OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理

OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000除了可實現(xiàn)高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構(gòu)提高了測量精度。　
OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。

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