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可以立即測量優(yōu)良量子效率（優(yōu)良量子產(chǎn)率）。與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區(qū)的雜散光。此外，通過采用積分半球單元，可以實現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)，并通過利用這一點重新激發(fā)熒光校正，可以進行高精度的測量。此外，QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
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ELSZneo通過光散射評估物理特性 進入新階段]這是 ELSZ 系列的*高型號，可測量稀溶液至濃溶液中的 zeta 電位和粒徑以及分子量。作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還支持粒子濃度測量、微流變學(xué)測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)分析。 新型 zeta 電位板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境中進行測量。我們還有一系列超痕量細(xì)胞單元，可以測量 3 μL 的粒徑，擴展了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。
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除了常規(guī)的zeta電位和粒度測量之外，它是一種可以用稀到濃溶液測量分子量的設(shè)備。 支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）?？梢允褂?小容量為 130 μL 或更大的一次性電池進行測量，通過實際測量電滲流，可以實現(xiàn)高精度的 zeta 電位測量。 此外，通過在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)自動進行溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。
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日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000
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日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-2000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-2000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-2000
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日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-1100 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-1100 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-1100
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日本大冢高速LED光學(xué)特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學(xué)特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學(xué)特性儀 LE-SERIES-LE-5400
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日本大冢全光束測量系統(tǒng) HM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) HM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) HM-SERIES
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日本大冢全光束測量系統(tǒng) FM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) FM-SERIES 日本大冢全光束測量系統(tǒng) FM-SERIES
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日本大冢高速近場配光測量系統(tǒng)RH1000 日本大冢高速近場配光測量系統(tǒng)RH1000 日本大冢高速近場配光測量系統(tǒng)RH1000
